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4月底，奧林巴斯— 新推出的 SLIDEVIEW VS200 4.1版本支持一系列新功能，包括可使您獲得樣品深處的高對比度圖像的SILA光學(xué)切片裝置。

一、對比度光學(xué)切片圖像

SILA光學(xué)切片設(shè)備結(jié)合使用結(jié)構(gòu)化的散斑照明和HiLo顯微成像原理來獲得高對比度圖像。這種基于相機的技術(shù)可快速捕捉兩幅照明圖像（不同照明圖像），并對圖像進行實時運算處理，以消除非焦面背景信號。與某些技術(shù)不同，這種方法使用起來簡單快速，不需要特殊校準(zhǔn)。SLIDEVIEW 4.1版軟件可引導(dǎo)用戶高效獲取光學(xué)切片圖像。在更深處成像時，光學(xué)切片能力保持不變，可幫助用戶從樣品深處捕捉到令人驚嘆的圖像。

SILA光學(xué)切片裝置允許添加到VS200多種配置的系統(tǒng)，包括那些帶有載玻片加載裝置的系統(tǒng)。這種裝置結(jié)構(gòu)緊湊，可連接到掃描儀的熒光照明器上。連接到VS200系統(tǒng)后，光學(xué)切片裝置可用于大多數(shù)樣品類型，包括厚度大于100微米的透明固定組織或細(xì)胞樣品，同時也可以在任何放大倍率下工作。

二、深度學(xué)習(xí)獲得更深入的洞察力

當(dāng)前的檢測方法不一定總能識別樣品上的透明和形態(tài)特征，且可能會漏掉關(guān)鍵目標(biāo)，但TruAI技術(shù)（SLIDEVIEW 4.1版軟件支持） 可以準(zhǔn)確地分割這些特征，且可將它們與其他外觀相似的特征區(qū)分開來。為了減輕數(shù)據(jù)處理的負(fù)擔(dān)，TruAI可使用其選擇性掃描模式來識別樣品區(qū)域，并跳過不感興趣的掃描區(qū)域。這種方式優(yōu)化了數(shù)據(jù)管理，包括存儲、上傳和共享圖像。

三、從掃描到共享無縫銜接

檢測人員可以輕松地將圖像上傳到數(shù)據(jù)庫，區(qū)分不同用戶的圖像，并可利用離線可視化和注釋工具。