RM新时代平台网址

賽默飛NanoDrop Ultra在特定波長(zhǎng)無(wú)法測(cè)量，通常是由基座污染、空白校正不當(dāng)、樣品問(wèn)題或硬件故障引起的。建議按照以下順序進(jìn)行排查：

一、清潔基座

這是常見(jiàn)的原因，殘留的樣品會(huì)嚴(yán)重干擾特定波長(zhǎng)的光吸收。

1、正確操作：使用柔軟的無(wú)塵布（如Kimwipes），蘸取去離子水或70%乙醇，單向擦拭上下兩個(gè)光學(xué)基座，然后讓其自然晾干。

2、驗(yàn)證效果：清潔后，滴加2μL空白液并執(zhí)行“Blank”校正。如果此時(shí)A260讀數(shù)大于0.04A，或曲線依然不平滑，說(shuō)明基座可能仍有污染。

二、檢查空白與樣品

1、空白校正（Blank）：確保每次實(shí)驗(yàn)或更換緩沖液后，都使用與樣品一致的溶劑進(jìn)行空白校正。

2、樣品狀態(tài)：確保樣品均一、無(wú)氣泡。上機(jī)前可將樣品短暫離心，去除氣泡和顆粒。

三、檢查軟件設(shè)置與系統(tǒng)狀態(tài)

1、選擇正確的應(yīng)用：在軟件中確認(rèn)已選擇正確的測(cè)量類(lèi)型（如“核酸”、“蛋白質(zhì)A280”等）。如果使用“自定義”模式，請(qǐng)檢查是否已正確添加了需要測(cè)量的波長(zhǎng)。

2、運(yùn)行診斷程序：運(yùn)行儀器內(nèi)置的“強(qiáng)度檢測(cè) (Intensity Check)”或使用PV-1性能驗(yàn)證試劑盒進(jìn)行驗(yàn)證。如果結(jié)果為“Fail”，則強(qiáng)烈提示硬件問(wèn)題。

3、重啟儀器：關(guān)閉儀器電源，等待至少60秒后再重新開(kāi)機(jī)，以清除臨時(shí)緩存和系統(tǒng)錯(cuò)誤。

四、排查硬件故障

如果以上步驟均無(wú)效，問(wèn)題可能出在硬件上：

1、光源老化：尤其表現(xiàn)為紫外區(qū)（如260nm附近）噪音增大。

2、光路組件：如光纖或光路組件污染或損壞。

3、檢測(cè)器或主板：檢測(cè)器靈敏度下降或主板電路故障。